文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-06-24 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科電子元器件篩選實驗室占地約2400平米，擁有全套資質(zhì)和專業(yè)團隊36人，配備180臺/套先進(jìn)的元器件篩選設(shè)備。我們致力于為客戶提供高質(zhì)量的電子元器件篩選服務(wù)，包括恒定加速度篩選試驗、電子元器件二次篩選、元器件失效分析（FA）及可靠性驗證等。
恒定加速度篩選試驗，又稱離心加速度試驗，是利用機械旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生恒定加速度，以測試元器件在離心加速度作用下的適應(yīng)能力和結(jié)構(gòu)牢固度。通過此試驗，可以彌補沖擊和振動試驗中未能發(fā)現(xiàn)的結(jié)構(gòu)或機械類型缺陷。
在實際工作環(huán)境中，元器件通常不會遭受很大的離心加速度，只有在特定情況下如飛機轉(zhuǎn)彎、火箭發(fā)射或?qū)椄淖兎较驎r，可能會受到較大的離心加速度（10g~200g）。因此，國內(nèi)外對元器件的篩選要求設(shè)定在5kg~30kg范圍內(nèi)，旨在篩選出粘片欠佳、內(nèi)引線與鍵合點強度較差的器件，而不是模擬器件實際使用環(huán)境。
恒定加速度篩選試驗的主要目的是評估元器件在X/Y/Z/X-/Y-/Z-六個方向上承受離心力的能力。通過此試驗，可以暴露出由于元器件結(jié)構(gòu)強度低或固有機械缺陷引起的失效情況，如芯片脫落、內(nèi)引線開路、框架變形和漏氣等問題。
我們常用的恒定加速度試驗方法有兩種：
1. 埋沙法
在埋沙法中，將元器件放入一個外形為立方體、內(nèi)腔為圓柱體的夾具內(nèi)固定住進(jìn)行試驗。這種方法能夠有效固定元器件，并通過離心力測試其抗壓能力。
2. 磁貼法
磁貼法利用磁力將元器件吸附在夾具上進(jìn)行試驗。這種方法簡單便捷，但需要確保磁力足夠強大以固定元器件。
恒定加速度試驗中可能暴露的缺陷包括：
- 結(jié)構(gòu)缺陷
- 芯片粘片問題
- 芯片裂紋
- 引線鍵合缺陷
- 機械強度不足
1. 施加的應(yīng)力強度：應(yīng)根據(jù)管殼質(zhì)量、管殼內(nèi)腔周長及器件類型嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定執(zhí)行，以免由于過應(yīng)力給器件留下隱患。
2. 固定器件外殼：器件外殼應(yīng)采用專用夾具固定，以免對外殼產(chǎn)生損傷性應(yīng)力。例如，使用細(xì)砂物質(zhì)作填充料的離心罐應(yīng)盡量填實，并對器件表面加以保護(hù)，以免填充料磨損器件表面或壓凹器件管帽。
3. 試驗方向：對于內(nèi)部元件主基座平面與Y軸垂直的器件，管殼安裝方向應(yīng)使芯片脫離粘結(jié)方向，即僅在稱為Y1的方向進(jìn)行試驗。
優(yōu)科電子元器件篩選實驗室以專業(yè)的團隊、先進(jìn)的設(shè)備和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶嶒灧椒ǎ瑸榭蛻籼峁└哔|(zhì)量的恒定加速度篩選試驗服務(wù)。歡迎聯(lián)系咨詢更多詳細(xì)信息，我們將竭誠為您服務(wù)。
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