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文章來源 : 廣東優科檢測 發表時間：2023-04-11 瀏覽數量：
ESD產生的原因較多，對于集成電路電子元件產品，常見的ESD被分類為下列三類，分別是：人體放電模式(HBM, Human Body Model)、機器放電模式(MM, Machine Model)以及元件充電模式(CDM, Charge Device Model)。
人體放電模式
指人體通過磨擦或其他原因積累了靜電，而靜電沒有釋放時，當人碰觸到電子元件時，人體積累的靜電便會經由電子元件的管腳進入電子元件內，再經由電子元件放電到地。該模型表征人體帶電接觸元件放電，人體等效電阻定為1.5kΩ，人體等效電容定為100pF。
機器放電模式
用于模擬帶電導體在電子元件上產生靜電放電。是指機器（例如機械手臂）本身積累了靜電，當此機器碰觸IC時，該靜電便經由IC的PIN腳放電。該放電過程持續時間較短、電流較大。
元件充電模式
由于摩擦或其他原因，電子元件在生產運輸過程中積累了靜電，但由于沒有快速釋放電荷，因此沒有受到損傷。這種帶有靜電的元件的管腳接近或者觸碰到導體或人體時，元件內部的靜電便會瞬間放電，此種模式的放電時間可能只在幾ns內。
CDM ESD放電時間更短、電流峰值更高，導致器件承受的ESD應力更大，相比于前兩種模式，CDM更容易導致IC損壞。
AEC-Q車載電子認證對集成電路芯片，分立器件，被動元器件及其他組件均提出了相應ESD測試需求。
AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q103、AEC-Q104等標準都是依據JS-001及JS-002進行HBM模式和CDM模式的ESD測試。
與其他系列的標準不同，AEC-Q200測試方法依據標準ISO 10605，分為接觸放電和空氣放電兩種模式。
接觸放電是針對可以接觸到的半成品電子產品或金屬外殼的電子產品，采用接觸式放電，模擬在生產、運輸和使用過程中可能出現的人體放電對電子產品造成損壞的情況。
空氣放電以絕緣外殼或在外殼表面涂覆絕緣防護層為放電目標，該放電不與試樣表面直接接觸，而是由高壓靜電脈撞擊穿空氣并傳送到產品內造成電子產品或元器件破壞的一種方式。
被動元器件HBM ESD等效電路模型
接觸放電和空氣放電ESD電流波形示意圖
被動元器件HBM ESD靜電敏感度等級，參考AEC-Q200-002標準等級如下表。
被動元器件HBM ESD靜電敏感度等級
ISO 10605規范的ESD測試方法同IEC 61000-4-2，僅在儲能電容及放電電阻方面存在差異。針對AEC-Q200的被動元器件測試要求，等效電阻定為2000Ω，等效電容定為150pF，相比之下，IEC 61000-4-2規定的330Ω、150pF/330pF更加嚴酷。
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