文章來(lái)源 : 廣東優(yōu)科檢測(cè) 發(fā)表時(shí)間：2024-04-26 瀏覽數(shù)量：
優(yōu)科檢測(cè)是專業(yè)第三方晶振測(cè)試機(jī)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室配備晶振測(cè)試儀，具備AEC-Q200 REV E標(biāo)準(zhǔn)CNAS全項(xiàng)檢測(cè)資質(zhì)，可提供第三方晶振頻率測(cè)量、晶振AEC-Q200認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。
晶振是一種通用頻率元件，以材質(zhì)可分為石英晶振，陶瓷晶振；以封裝可分為貼片晶振，插件晶振；從供電方式可分為有源晶振和無(wú)源晶振。
一般的晶振作用是產(chǎn)生頻率源，晶振有不同的頻率,可以使電路工作在穩(wěn)定的頻率范圍之內(nèi)，它是給IC提供基礎(chǔ)時(shí)鐘。
在無(wú)線通信、衛(wèi)星通信、移動(dòng)電話、全球定位系統(tǒng)、導(dǎo)航、遙控、航空航天、高速計(jì)算機(jī)、精密計(jì)測(cè)儀器、物聯(lián)網(wǎng)通信、消費(fèi)類電子、工業(yè)自動(dòng)化、安防類、醫(yī)療儀器、汽車(chē)電子等行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)，幾乎應(yīng)用于所有的電子設(shè)備中。
晶振的性能直接影響著各種集成電路應(yīng)用，比如：晶振頻率偏差過(guò)大導(dǎo)致的時(shí)鐘偏移、定時(shí)偏差、無(wú)線頻率偏差等等。
頻率測(cè)量是確保晶振性能和電子設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵步驟，它對(duì)于各種行業(yè)領(lǐng)域中的電子設(shè)備都至關(guān)重要。通過(guò)對(duì)晶振頻率的精確測(cè)量，可以保證系統(tǒng)的時(shí)鐘同步和數(shù)據(jù)傳輸?shù)臏?zhǔn)確性，從而提升整體系統(tǒng)的性能和可靠性。
1、應(yīng)力測(cè)試前后電氣測(cè)試
2、高溫存儲(chǔ)
3、溫度循環(huán)
4、高溫高濕；
5、高溫工作壽命；
6、外觀檢查；
7、尺寸檢查；
8、端子強(qiáng)度；
9、耐溶劑測(cè)試；
10、機(jī)械沖擊；
11、振動(dòng)；
12、耐焊接熱；
13、ESD靜電測(cè)試；
14、可焊性；
15、電氣特性；
16、可燃性；
17、板彎曲；
18、引出端強(qiáng)度（貼片）。
- 頻率范圍：1~60MHZ；
- 測(cè)量網(wǎng)絡(luò)的終端電阻：源端24?，負(fù)載端27?；
- 起振電阻范圍：1~10MHZ起振電阻范圍為0~500?；10~60MHZ起振電阻范圍為0~100?；
- 阻值讀數(shù)范圍：0~1999.9?；
- 激勵(lì)功率范圍：1.5~1200uW；
- 負(fù)載電容范圍：12.5~50pF。
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